測厚儀原理 不同種類測厚儀介紹
這類儀錶中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計;有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計;有利用渦流原理的電渦流厚度計;還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。我們今天主要為大家介紹的是鐳射測厚儀和X射線測厚儀。並且為大家講解測厚儀原理。
【鐳射測厚儀和X射線測厚儀的區別】
鐳射測厚儀一般是由兩個鐳射位移感測器上下對射的方式組成的，上下的兩個感測器分別測量被測體上表面的位置和下表面的位置，通過計算得到被測體的厚度。鐳射測厚儀的優點在於它採用的是非接觸的測量，相對接觸式測厚儀更精准，不會因為磨損而損失精度。相對超聲波測厚儀精度更高。相對X射線測厚儀沒有輻射污染。
【測厚儀原理】
紙張測厚儀：比較適合4mm以下的各種比較薄的片狀材料厚度的測量。
超聲波測厚儀：超聲波測厚儀主要有主機和探頭兩部分組成。主機電路包括發射電路、接收電路、計數顯示電路三部分，由發射電路產生的高壓衝擊波激勵探頭，產生超聲發射脈衝波，脈衝波經介質介面反射後被接收電路接收，通過單片機計數處理後，經液晶顯示器顯示厚度數值，它主要根據聲波在試樣中的傳播速度乘以通過試樣的時間的一半而得到試樣的厚度。 我廠經營的HT系列超志波測厚儀，在採用國內外先進技術的基礎上，運用單片機技術研製 的一種低功耗低下限袖珍式的智慧測量儀器，不僅有測量不同材質厚度的儀器，而且有單測鋼，超薄型的，同時均可配套高溫測厚探頭。
鐳射測厚儀：是一種非接觸式測厚儀，兩個鐳射位移感測器的鐳射對射，被測體放置在對射區域內LPM30C鐳射測厚原理，根據測量被測體上表面和下表面的距離，計算出被測體的厚度。鐳射測厚儀的基本組成是雷射器、成像物鏡、光電位元敏接收器、信號處理機測量結果顯示系統。雷射光束在被測物體表面上形成一個亮的光斑，成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器的光敏上，產生探測其敏感面上光斑位置的電信號。當被測物體移動時，其表面上光斑相對成像物鏡的位置發生改變，相應地成像點在光敏器件上的位置也要發生變化。鐳射測厚儀能直接輸出信號和工業電腦連接，快速處理資料和輸出偏差值。鐳射測厚儀是用鐳射檢測技術和防護措施，適合溫度較高的物體測量厚度的要求。其檢測系統具有成本低、無輻射、便於維護等優點。
小編結語：以上為大家介紹了測厚儀原理
【鐳射測厚儀和X射線測厚儀的區別】
鐳射測厚儀一般是由兩個鐳射位移感測器上下對射的方式組成的，上下的兩個感測器分別測量被測體上表面的位置和下表面的位置，通過計算得到被測體的厚度。鐳射測厚儀的優點在於它採用的是非接觸的測量，相對接觸式測厚儀更精准，不會因為磨損而損失精度。相對超聲波測厚儀精度更高。相對X射線測厚儀沒有輻射污染。
【測厚儀原理】
紙張測厚儀：比較適合4mm以下的各種比較薄的片狀材料厚度的測量。
超聲波測厚儀：超聲波測厚儀主要有主機和探頭兩部分組成。主機電路包括發射電路、接收電路、計數顯示電路三部分，由發射電路產生的高壓衝擊波激勵探頭，產生超聲發射脈衝波，脈衝波經介質介面反射後被接收電路接收，通過單片機計數處理後，經液晶顯示器顯示厚度數值，它主要根據聲波在試樣中的傳播速度乘以通過試樣的時間的一半而得到試樣的厚度。 我廠經營的HT系列超志波測厚儀，在採用國內外先進技術的基礎上，運用單片機技術研製 的一種低功耗低下限袖珍式的智慧測量儀器，不僅有測量不同材質厚度的儀器，而且有單測鋼，超薄型的，同時均可配套高溫測厚探頭。
鐳射測厚儀：是一種非接觸式測厚儀，兩個鐳射位移感測器的鐳射對射，被測體放置在對射區域內LPM30C鐳射測厚原理，根據測量被測體上表面和下表面的距離，計算出被測體的厚度。鐳射測厚儀的基本組成是雷射器、成像物鏡、光電位元敏接收器、信號處理機測量結果顯示系統。雷射光束在被測物體表面上形成一個亮的光斑，成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器的光敏上，產生探測其敏感面上光斑位置的電信號。當被測物體移動時，其表面上光斑相對成像物鏡的位置發生改變，相應地成像點在光敏器件上的位置也要發生變化。鐳射測厚儀能直接輸出信號和工業電腦連接，快速處理資料和輸出偏差值。鐳射測厚儀是用鐳射檢測技術和防護措施，適合溫度較高的物體測量厚度的要求。其檢測系統具有成本低、無輻射、便於維護等優點。
小編結語：以上為大家介紹了測厚儀原理
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